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ESPEC AMI-U 絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統

espec AMI-U 絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統
面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝,因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。

自主開發的可連續通電掃描方式,配以符合國際標準的測試儀表,實現高精度測量
漏電檢測功能正確捕捉離子遷移現象的細微變化
專用統計處理軟件E-Graph可實時編輯、預覽測量數據
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