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SENTECH SENPRO UV/VIS/NIR光譜橢偏儀

sentech SENPRO UV/VIS/NIR光譜橢偏儀

  低價位光譜橢偏儀,用于在UV/VIS / NIR光譜范圍測量薄膜厚度及其折射率
  SenPro橢偏儀是新一代低價位光譜橢偏儀,以快速測量、使用簡易和對樣品操作為特性。
  SenPro能夠測量單層薄膜的厚度和折射率。

規格
光譜范圍 250 nm ... 900 nm
測量時間 單點測量時間40 μs, 全光譜測量時間20 ms
可變入射角度 45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg
載物臺 可調節高度和傾斜度的載物臺,手動25 mm x-y 方向移動
光源 Xe弧光燈
分光計 掃描式單色儀
軟件 光譜橢偏儀軟件,支持測量、建模、擬合橢偏光譜,材料庫,protocol功能,輸出數據
計算機 USB 接口連接 PC,包含PC、WindowsXP操作系統
電源需求 115/ 230 V, 50 / 60 Hz
尺寸 850 mm x 400 mm x 300 mm
重量 35 kg
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